Burn In Test Socket용 Metal (BeCu) 부품입니다.

Contact는 Burn In Test Socket용 Metal (BeCu) 부품입니다.

Burn In Test란, 메모리, 비메모리 반도체 소자(BGA&LGA)에 고온(125°C) 조건하에 임계값에 가까운 전압 상태에서 제품을 동작시켜 실제 사용 시 발생할 수 있는 반도체 제품의 불량을 조기에 검출하기 위한 Test (Burn In Socket이 장착된 Burn In Board Burn In Test M/C에 넣고 일정 시간/기간 동안 Test)